Waveshare QFN-10(20)BT-0.5-02, Socket de Test & Burn-in

Le socket de test et de burn-in Enplas IC pour les boîtiers QFN10, MLP10, MLF10 améliore la fiabilité et la précision dans les tests de semi-conducteurs. Sa construction robuste garantit une connexion sécurisée et efficace pour les processus d'évaluation critiques.

Les avantages incluent la minimisation de la perte d'insertion, la réduction de la dégradation du signal et l'assurance de la stabilité thermique lors des tests rigoureux. Le design du socket permet une installation et un retrait sans effort, ce qui le rend idéal pour une utilisation répétée dans des environnements de test dynamiques.

Parfait pour les applications à haute densité, son architecture innovante permet une dissipation efficace de la chaleur, même sous des conditions de test prolongées, un peu comme un circuit bien ventilé qui aide les appareils électroniques à bien fonctionner.

Les spécifications incluent des broches fabriquées avec précision, un corps en alliage haute performance et un mécanisme de contact résistant. Cette prise accueille facilement les boîtiers QFN, MLP et MLF, garantissant une utilisation polyvalente dans différents scénarios de test.